非接触式三次元测量仪作为一种高精度三维几何测量设备，通过光学、激光或结构光等非接触技术获取物体表面信息，在工业制造、质量控制等领域展现出显著优势。其核心优点可归纳为以下六个方面：
1. 高精度与高重复性
微米级精度：采用激光干涉、共聚焦显微等原理，测量精度可达微米甚至纳米级别，满足精密制造（如半导体芯片、光学元件）的严苛需求。
稳定可靠：非接触式测量避免了接触式探头因摩擦、磨损导致的误差累积，长期使用仍能保持高重复性，确保数据一致性。
2. 非接触式测量，避免损伤与变形
无物理接触：通过光、声、电磁波等介质获取数据，完全避免接触式探头对柔软、易变形或高精度表面的划伤或压痕。
适用脆弱材料：可安全测量薄壁件（如手机中框）、弹性体（如橡胶密封圈）或文物等易损物体，保护样品完整性。
3. 高速高效，适合批量检测
快速扫描：激光扫描或结构光投影技术可在几秒内完成复杂曲面的全尺寸测量，效率比接触式测量提升10倍以上。
自动化集成：与机器人或传送带结合，实现全自动在线检测，适用于大批量生产（如汽车零部件、3C产品）的质量控制。
4. 全尺寸与复杂曲面测量能力
三维数据获取：直接生成点云或网格模型，完整捕捉物体空间形态，突破接触式测量需分步采点的局限。
复杂结构适配：可测量深孔、内腔、交叉孔等接触式探头难以触及的区域，如涡轮叶片内部流道。
5. 多功能性与环境适应性
多参数测量：集成长度、角度、形位公差、表面粗糙度等多种检测功能，一机多用，减少设备投入。
恶劣环境兼容：部分型号具备防尘、防水、耐高温设计，可在车间、野外等复杂环境中稳定工作。
6. 智能化与数据整合优势
软件分析强大：配套专业测量软件支持逆向工程、CAD比对、形变分析等功能，直接输出检测报告。
数据互联互通：支持与MES、ERP等系统对接，实现测量数据与生产流程的无缝集成，推动智能制造。
CRYSTA-Apex V系列采用彰显先进性和创造性的焕新设计，提供可应对小型到大型工件测量的丰富产品阵容。
CRYSTA-Apex V系列可以指定3D形状的测量路径，以自由的测量路径来测量曲面、轮廓等复杂形状的工件。另外，通过实时修正工件和公称值的偏差引起的轨迹误差，可实现不受加工精度与设置偏差的高速测量。